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TESCAN大样品仓双束电镜 (FIB-SEM)
当今研究和产业的需求,其高分辨率、高电流和强大的软件使TESCAN FIB-SEM成为优秀的分析工具。现代电子光路独特的三透镜大视野观察(Wide Field Optics™)设计提供了许多工作与显示
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TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统
离子质谱与 FIB-SEM 系统集成。这种组合能够为用户提供固体材料的 3D 化学表征和分子信息,高离子质量分辨率和高空间分辨率成像等,并可以进行原位 FIB 深度分析。 TESCAN 电镜
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TESCAN Xe等离子双束扫描电镜(FIB-SEM)
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三轴纳米探针台
三轴纳米探针台应用于纳米材料操纵、纳米器件电学光学等物性测量、生物细胞DNA操作等;适配SEM:日本电子、日立、FEI、TESCAN等。应用于纳米材料操纵、纳米器件电学光学等物性测量、生物细胞DNA
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TESCAN CLARA 超高分辨场发射扫描电镜
)· 自动拼图软件· 样品观察· TESCAN Flow™ (离线处理软件)根据实际配置和需求 TESCAN CLARA FE-SEM 超高分辨场发射扫描电镜
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超大样品室钨灯丝扫描电镜 TESCAN VEGA
机械泵的运行时间,从而达到节能、环保的要求。主要特点:完全集成的 TESCAN Essence™ EDS 分析平台,在 Essence™ 电镜操控软件的单一窗口中即可实现 SEM 成像和元素成分
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TIMA-X(FEG GMU/GMH)大样品仓矿物分析仪系统
组合分析和颗粒尺寸分析。 TIMA的应用范围很宽,包括矿石性质、工艺优化、修复、贵金属和稀土的寻找等。TESCAN的独特技术是基于一个完全集成的EDX系统执行快速的全光谱扫描。 SEM与EDX硬件的
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易瞻 多参数水质在线分析仪 SEM9850-MU
显示输出7寸触摸屏,带LED强背光可阳光直射下操作电源100-240VAC (50/60HZ)输出八路4-20mA模拟输出,程序设定响应参数及对应范围继电器设置四路继电器,程序设定响应
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集成矿物分析仪 TIMA-X FEG(LM
快速的全光谱扫描。 SEM与EDX硬件的一体化技术提供了前所未有的数据采集速度,进而得到快速、准确和可靠的结果。TIMA硬件TESCAN TIMA基于MIRA肖特基场发射或者VEGA钨灯丝扫描
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TESCAN S8000G 高分辨镓离子型双束扫描电镜
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